接近傳感器是以光電傳感器、接近傳感器等為主體的檢測(cè)接近傳感器，半導(dǎo)體一般會(huì)在使用初期發(fā)生故障，其原因是使用在回路中的半導(dǎo)體，在制造中受到種種應(yīng)力而導(dǎo)致在使用開(kāi)始后的短期內(nèi)發(fā)生破損；另外，功率比半導(dǎo)體低的電阻、電容也是造成使用初期故障的原因。初期故障的發(fā)生時(shí)間。

　　接近傳感器包括偶爾故障和使用初期故障，偶爾故障包括半導(dǎo)體部件的不良而引起的故障，電阻、電容的短線、短路、容量不足，電路板的電路斷裂，帶焊料等的不良現(xiàn)象，但發(fā)生率極低。接近傳感器經(jīng)常發(fā)生故障時(shí)，可以考慮為使用環(huán)境的問(wèn)題。

　　接近傳感器負(fù)荷短路與配線錯(cuò)誤

　　由于配線錯(cuò)誤或帶電作業(yè)引起負(fù)荷短路時(shí)，導(dǎo)致大電流流向檢測(cè)接近傳感器，輸出回路燒毀。作為在檢測(cè)接近傳感器外進(jìn)行的保護(hù)對(duì)策，可使用切斷快速熔斷器短路電流的方法，通過(guò)熔斷器進(jìn)行保護(hù)，不僅可保護(hù)負(fù)荷短路，還對(duì)地線有保護(hù)作用。但是，由于開(kāi)關(guān)內(nèi)的輸出晶體管的殘余容量小，達(dá)不到百分百的效果。

　　干擾波導(dǎo)致的破損

　　由干擾波帶來(lái)的破損是慢慢形成的，因此在開(kāi)始使用后的一個(gè)月或二三個(gè)月后發(fā)生破損是極其普通的。因此，在該器件發(fā)生破損時(shí)，其原因則可判斷為干擾波。電感負(fù)載開(kāi)閉時(shí)發(fā)生的檢測(cè)接近傳感器的瞬間錯(cuò)誤動(dòng)作時(shí)由干擾波造成的。